Electronique de Spin Et Semiconducteurs

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  • 8/17/2019 Electronique de Spin Et Semiconducteurs

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    A. Bournel

    Electronique de spin et semiconducteurs

    Arnaud Bournel

    Institut d'Electronique Fondamentale, CNRS UMR 8622, Université Paris Sud, Bât. 220, F-91405 Orsay

    Mél. : [email protected], Tél. : 01 69 15 40 25, Fax : 01 69 15 40 20

    1-Introduction

    L'électronique de spin, ou "magnétoélectronique"

    [1], est une nouvelle thématique de recherche en plein

    essor depuis la fin des années 80. Les premières

    structures étudiées dans ce domaine sont constituées de

    multicouches métalliques ferromagnétiques, séparées

    soit par des isolants "tunnel", soit par des films

    métalliques non magnétiques. Leurs principes de

    fonctionnement sont liés à une propriété des métaux

    ferromagnétiques relative au spin des électrons : ils

    injectent ou collectent préférentiellement des porteursdont le spin est polarisé suivant la direction de leur 

    moment magnétique. De tels dispositifs sont déjà

    utilisés au niveau industriel en tant que capteurs de

    champ magnétique pour têtes de lecture de disques durs,ou sont appelés à l'être bientôt dans le cas des mémoires

    RAM magnétiques.

    Durant ces quatre dernières années, des groupes

    travaillant dans le domaine des composants à

    semiconducteurs se sont également intéressés aux

     propriétés relatives au spin de l'électron [2]. En effet,des études récentes ont montré qu'il est envisageable

    d'agir sur le spin des porteurs de charge et d'utiliser cette

    grandeur pour modifier les caractéristiques électriqueset optiques de structures à semiconducteurs.

    Dans les deux sections suivantes, nous présentons

    deux exemples de structures pouvant être réalisées enoptoélectronique et microélectronique de spin. Dans la

    dernière partie nous abordons le délicat problème de la

    sélectivité en spin des contacts réalisés entre matériaux

    ferromagnétiques et semiconducteurs.

    2-Commutateur optique à spin

    Les interrupteurs tout optique peuvent tirer profit dela dynamique de spin électronique dans les

    hétérostructures III-V. En effet, il est possible de

    moduler la transmission d'une lumière polariséerectilignement par une population électronique polarisée

    en spin. L'interrupteur est constitué d'unehétérostructure III-V à multi-puits quantiques dans

    laquelle des électrons polarisés en spin sont générés par 

    "pompage optique" (génération par un flux lumineux à

     polarisation circulaire). Ce gaz entièrement polarisé en

    spin est "sondé" par une lumière incidente polarisée

    rectilignement, décomposable en polarisation circulaire

    gauche σ+ et droite σ-, et le faisceau réfléchi est analysé par un polariseur croisé. Sans polarisation de spin

    électronique, la somme des composantes σ+  et σ

    -  du

    rayon réfléchi donne une polarisation linéaire et

    l'analyseur coupe le signal. Si au contraire on polariseen spin les électrons des puits quantiques, ceux-ci

    interagissent avec la lumière incidente, les indices de

    réfraction pour les composantes σ+  et σ-  diffèrent et la polarisation réfléchie est elliptique. On peut alors

    détecter un signal au niveau de l'analyseur. Compte tenu

    des faibles temps de relaxation de spin observés dans les

     puits quantiques InP/InGaAs/InP (la ps), on peut espérer des commutations très rapides dans une gamme de

    longueurs d'onde utile aux télécommunications. Des

    démonstrateurs ont été réalisés, mais ces structures sont

    encore complexes [3]. Il est à noter que les techniques

    de pompage optique ont également été mises en œuvre

     pour l'émission "laser" polarisée en spin dans descavités semiconductrices [4].

    Cependant, la physique des mécanismes de

    relaxation de spin dans les puits quantiques reste encore

    aujourd'hui un objet d'interrogations théoriques. Nous

    avons étudié par simulation particulaire Monte Carlo la

    relaxation de spin électronique dans des puits

    AlGaAs/GaAs/AlGaAs à température ambiante [5]. Les

    temps de relaxation de spin calculés sont reportés sur la

    Figure 1 en fonction de l'énergie E1 du niveau quantique

    fondamental du puits (ligne continue). Ces valeurs sont

    en très bon accord avec des mesures réalisées par 

    ailleurs (symboles) [6]. En particulier, nous avons mis

    en évidence l'influence de l'interaction de rugositéd'interface sur la dynamique de spin : dans des puits de

    quelques nm de largeur, l'interaction de rugosité prend

    de l'importance et ralentit la relaxation de spin, commeon peut le constater sur la Figure 1 dans le cas des puits

    les plus étroits, c'est-à-dire pour les grandes valeurs de

    l'énergie E1.

    10

    10 0

    10 100

    Monte Carlo [5]

    Mesures [6]

       T  e  m  p  s       τ

      s   (

      p  s   )

    Energie E1 (meV)

    Figure 1 : Temps de relaxation de spin τs  en fonction del'énergie E1  du niveau quantique fondamental dans des puits

    AlGaAs/GaAs/AlGaAs à 300 K.

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    3-Spin-FET

    Dans un puits quantique formé à l'hétéro-interface

    d'une hétérostructure III-V à modulation de dopage, il

    est possible de contrôler la rotation de spin électronique.Ce contrôle s'effectue par l'intermédiaire d'un couplage

    spin-orbite, dit de Rashba, lié au fort champ électrique

    E⊥  normal à l'hétéro-interface. L'existence de ce phénomène, associée aux propriétés des couches minces

    métalliques ferromagnétiques, a conduit deux

    chercheurs américains à proposer une structure originalede transistor à effet de champ, le transistor à rotation de

    spin ou "spin-FET" [7]  (cf.  Figure 2). Il s'agit d'un

    transistor de type HEMT dans lequel les zones

    habituelles de source et drain sont remplacées par des

    contacts ferromagnétiques. Ces deux contacts jouent le

    rôle de polariseur et d'analyseur de spin pour lesélectrons présents dans le canal 2D du transistor. De

     plus, la tension de grille VGS permet de moduler E⊥  etdonc de contrôler la rotation de spin des électrons qui

    traversent le canal grâce au couplage de Rashba évoqué

    ci-dessus. Grâce à ce double contrôle électrique et

    "magnétique" de ID par VGS, on peut alors avoir un effet

    de champ "double" (augmentation de la densité de porteurs et alignement des spins avec la direction de

    l'aimantation du contact de drain) ou qui "s'annule"

    (augmentation de la densité de porteurs mais

    désalignement des spins avec la direction de

    l'aimantation du contact de drain). Des valeurs de

    transconductances négatives importantes peuvent ainsiêtre atteintes [2]. De tels effets électriques sont

     potentiellement intéressants en électronique rapide, pour 

    la synthèse de fréquence ou la réalisation de portes

    logiques complexes avec un nombre réduit de

    composants.

    W

    R Ω!

    S!

    FM FMSC2

    SC1

    L

    e

    Figure 2 : Structure du transistor à rotation de spin, ou

    spin-FET. SC1 (resp. SC2) est un semiconducteur III-V à faible

    (resp. large) bande interdite.R 

    Ω!

     est le vecteur de précession

    de spin de Rashba autour duquel tourne le spin électronique S!

    lors des vols libres des porteurs. La direction de ce vecteur est perpendiculaire à la trajectoire des électrons.

    Jusqu'à présent, et cela malgré des efforts

    importants, aucun des groupes de recherche qui dans le

    monde se sont intéressés au spin-FET n'est cependant

     parvenu à réaliser une structure viable. Afin qu'un tel

    composant fonctionne correctement, il faut que troisconditions soient remplies.

    10 0

    1000

    10 4

    100 1000

       L  o  n  g  u  e  u  r   L

      s   (  n  m   )

    Largeur W (nm)

    77 K 

    300 K 

    Figure 3 : Longueur de relaxation de spin Ls en fonction de

    la largeur W d'un gaz d'électrons 2D formé dansIn0,53Ga0,47As. Résultats de simulation Monte Carlo [8]. Le

    champ électrique E⊥  confinant les électrons est égal à

    300 kV/cm.

    (i) Tout d'abord, la longueur L de canal du spin-FET

    doit être évidemment plus faible que la longueur derelaxation de spin Ls. Mais elle doit être aussi plus

    grande qu'une longueur Lmin  telle que le spinélectronique effectue deux rotations complètes pendant

    la traversée du canal. Le respect de cette condition

    assure que l'on puisse caractériser la précession de

    Rashba et est nécessaire pour que l'effet detransconductance négative apparaisse [2]. La longueur 

    Lmin est d'autant plus faible que le couplage de Rashba

    est important dans le semiconducteur utilisé. Elle est de

    l'ordre de 4 µm dans GaAs, 1 µm dans In0,53Ga0,47As, et

    0,4 µm dans InAs. L'utilisation d'un semiconducteur à

    faible largeur de bande interdite est en fait nécessaire pour envisager la réalisation d'un spin-FET de longueur 

    de grille submicronique. Pour que la longueur de

    relaxation de spin Ls  soit supérieure à 1 µm, il fauttoutefois dimensionner correctement le canal du

    transistor. Le vecteur de précession de Rashba étant

     perpendiculaire à la trajectoire de l'électron, la précession de spin comme le mouvement de l'électron

    dans le plan du canal tend à devenir progressivement

    aléatoire à mesure que le porteur subit de plus en plus

    d'interactions. Comme l'illustrent les résultats de

    simulation Monte Carlo présentés sur la Figure 3, Ls estainsi inférieur à 300 nm dans In0,53Ga0,47As à 300 K 

     pour une largeur de canal W supérieure à 1000 nm. A

    77 K, les fréquences d'interaction sont plus faibles et L sest plus grand mais cette longueur reste inférieure à

    700 nm. En revanche si la largeur de canal est inférieureà 1000 nm, on peut constater sur la Figure 3  que Ls

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    augmente fortement pour W décroissant. En fait lorsque

    l'on tend vers une trajectoire de type unidimensionnel,

    l'effet de relaxation de spin lié aux interactions disparaît

     progressivement : les interactions ne peuvent plus

    rendre aléatoire la direction du vecteur de précession despin qui est perpendiculaire au vecteur vitesse de

    l'électron. En outre, on peut noter d'après la Figure 3

    qu'il n'est pas nécessaire de réaliser un véritable fil

    quantique pour obtenir une longueur de relaxation de

    spin supérieure au µm à 300 K : limiter la largeur du

    transistor à moins de 100 nm est suffisant.

    (ii) Pour une trajectoire 1D entre source et drain, le

    vecteur de précession de Rashba a une direction qui

    reste toujours parallèle à la largeur du transistor.L'orientation de spin des électrons injectés dans le canal

    du spin-FET ne peut donc être quelconque : elle doit

    être perpendiculaire à la largeur du transistor [8]. Cette

    condition est particulièrement importante pour ledimensionnement du spin-FET. En effet, l'anisotropie de

    forme tend à imposer un alignement du momentmagnétique des source et drain parallèle à la plus grande

    dimension de ces contacts, soit parallèle à la largeur du

    spin-FET (cf.  Figure 2). Pour résoudre cette difficulté,

    on peut envisager de réduire fortement la dimension e

    des couches ferromagnétiques dans la direction

    source-drain, soit à des épaisseurs de quelques nm, afinde bénéficier de l'anisotropie de surface qui favorise

    l'aimantation des couches ferromagnétiques

     perpendiculaire aux interfaces. D'un point de vue

    technologique, il semble toutefois très délicat de réaliser 

    un transistor comportant à la fois un canal de largeur 

    réduite voire unidimensionnel et des contacts de source

    et drain à aimantation perpendiculaire. Il est à noter de

     plus qu'il est assez difficile de déposer des couches de

    métaux ferromagnétiques de bonne qualité magnétique

    sur des matériaux comme GaAs [9].

    (iii) Enfin, il faut évidemment que les contacts de

    source et drain constituent véritablement des filtres à

    spin efficaces. Ce point délicat, qui constitue une pierre

    d'achoppement pour la viabilité du spin-FET, fait l'objet

    de la section suivante.

    4-Contacts sélectifs en spin

    Si la création et la détection par voie entièrement

    optique d'électrons polarisés en spin dans les

    semiconducteurs constituent aujourd'hui des techniques

     bien maîtrisées, il n'en est absolument pas de même des

    méthodes électriques. Malgré des efforts intenses, la

    sélectivité en spin d'un contact constitué par un métal

    ferromagnétique et un semiconducteur n'a encore jamais

    été démontrée expérimentalement. D'après une étude

    théorique récente [10], il semble en outre que le concept

    d'injection sélective en spin par un contact ohmique

    ferromagnétique/semiconducteur ne soit pas viable, sauf 

    si le ferromagnétique est entièrement polarisé en spin.

    Cela est attribué aux grandes différences de conductivitéet de longueur de relaxation de spin entre ces deux types

    de matériaux. Ce problème pourrait être résolu avec des

    contacts Schottky ou à effet tunnel [11], ou bien en

    utilisant des matériaux magnétiques aux propriétés de

    transport plus proches des semiconducteurs, c'est-à-diredes composés II-VI ou III-V alliés au Mn. Il a été en

    effet démontré expérimentalement que BeMnZnSe [12]ou GaMnAs [13] constituaient d'efficaces polariseurs de

    spin. Néanmoins, des difficultés subsistent quant à

    l'utilisation de ces deux types de matériaux. Les II-VI

    magnétiques ne constituent d'efficaces filtres à spin qu'àtrès faibles températures et sous forte excitation

    magnétique ou optique. Si les III-V alliés au Mn

     peuvent être ferromagnétiques jusqu'à un peu plus de

    100 K, leur utilisation est rendue délicate par le fait que

    le Mn constitue un dopant accepteur pour GaAs.D'autres matériaux incluant des ions "magnétiques"

    (métaux de transition) sont étudiés actuellement, comme

    CrAs [14] ou ZnCoO [15]. Si les premiers résultats sont

     prometteurs, ces études de nouveaux matériaux pour l'électronique de spin doivent encore être poursuivies

     pour véritablement aboutir.Pour ce qui est de la collection sélective en spin, un

    autre problème lié au semiconducteur existe et pourrait

    expliquer l'échec des mesures de collection dépendant

    du spin dans des simples contacts établis entre un métal

    ferromagnétique et GaAs. Dans ce type d'expériences,

    des électrons polarisés en spin sont photogénérés dansun substrat GaAs dopé P et on étudie la variation du

    courant collecté par un contact Schottky ou tunnel

    ferromagnétique, déposé sur GaAs, en fonction des

    orientations relatives du moment magnétique du contact

    et des spins majoritairement générés dans le

    semiconducteur. Cette variation relative est désignée par 

    la suite comme "l'asymétrie en spin" du photocourant.

    Jusqu'à présent, les effets mesurés restent de l'ordre de

    1%. Cependant, même si l'interface

    ferromagnétique-semiconducteur est intrinsèquement

    sélective en spin, l'asymétrie en spin effective peut être

    fortement réduite du fait des caractéristiques du

    transport électronique dans GaAs. Afin que l'excès

    d'électrons dû à la photogénération dans GaAs soit

    éliminé tout en conservant une forte asymétrie en spin

    du photocourant, il faut que les électrons a priori  non

    collectés par le ferromagnétique, car de la mauvaise

    orientation de spin, se recombinent avant de perdre leur 

    cohérence de spin. Or les temps typiques de

    recombinaison sont nettement plus grands que les temps

    de relaxation de spin électronique et encore plus grands

    que les temps de collection. Le contact ferromagnétique

    ne peut donc jouer son rôle de filtre à spin. Pour pallier 

    cette difficulté, nous proposons de déposer sur GaAs

    deux contacts "en peigne" (cf.  Figure 4)  : des contacts

    larges non magnétiques (NM) pour réguler l'excès

    d'électrons dû à l'éclairement, avec des "doigts"

    intercalés de contacts ferromagnétiques (FM) qui jouent

    alors leur rôle d'analyseur de spin.

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    A. Bournel

    A AGaAs (P)

    non FMFM

    Figure 4 : Structure à contacts en peigne pour la mesure de lacollection sélective en spin.

    0

    10

    20

    30

    40

    50

    0 20 40 60 80 100

       A  s  y  m   é   t  r   i  e  e  n  s  p   i  n   (   %

       )

    Temps (ps)

    Peigne, V NM

     = VFM

     = 0 V

    Simple contact FM

    Peigne, V NM

     = 1 V, VFM

     = 0 V

    Figure 5 : Asymétrie en spin du photocourant collecté par 

    une électrode sélective en spin FM, déposée sur GaAs dopé P,

    après génération d'électrons polarisés en spin dans GaAs par une impulsion optique de 100 fs. Résultats de simulationMonte Carlo pour différentes configurations à 300 K.

     Nous avons évalué par simulation Monte Carlo

    l'asymétrie en spin du photocourant collecté par un

    contact Schottky FM dans une telle structure en peigne,

    et comparé cette valeur à celle obtenue dans le cas d'un

    simple contact ferromagnétique. La Figure 5  présentel'évolution temporelle de l'asymétrie en spin après

    éclairement de GaAs par une impulsion lumineuse de

     pompage optique. La polarisation en spin du contact FM

    est supposée égale à ±50 %, c’est-à-dire que la probabilité de collection des électrons à spin ↑  (ou ↓suivant le signe) par l’électrode FM est égale à 75%, et

    celle des spins ↓  (ou ↑) à 25%. Les électrons noncollectés subissent une réflexion spéculaire à l’interface

    FM/GaAs. Pour un simple contact FM (tirets),

    l'asymétrie en spin tend très rapidement vers 0 comme

    le laissait prévoir l'analyse qualitative menée

     précédemment. La courbe en ligne continue représente

    l'asymétrie en spin obtenue dans une structure en peigne pour laquelle la différence de potentiel appliquée entre

    les contacts Schottky (NM ou FM) et l'électrode de

    substrat est nulle. Après une période transitoire de

    quelques 20 ps, l'asymétrie en spin se stabilise pour 

    atteindre une valeur de 5 à 6%. On peut obtenir une

    valeur plus importante en polarisant en inverse la

    Schottky NM (ligne continue avec des symboles) : dans

    ce cas, l'asymétrie en spin dépasse 20% pendant les 20

     premières ps, puis décroît 100 ps après l'impulsion de

     pompage jusqu'à environ 12%. Après 100 ps, la

    relaxation de spin peut intervenir de manièreimportante. Dans ce cas, la zone de charge d'espace

    (ZCE) sous le contact NM s'étend sur une plus grande

    distance que précédemment, et collecte donc plus

    efficacement les électrons dans GaAs qui sont "happés"

     par le champ électrique intense régnant dans la ZCE. Le

    contact NM joue alors mieux son rôle de régulateur, et

    le contact FM celui de filtre à spin. La structure en

     peigne semble tout à fait prometteuse pour étudier 

    expérimentalement les phénomènes de collectiondépendant du spin aux interfaces entre ferromagnétiques

    et semiconducteurs.

    5-Conclusion

    Dans le cas des dispositifs "classiques" de

    l'optoélectronique ou de la microélectronique, des

    efforts supplémentaires sont encore nécessaires pour que le spin électronique constitue réellement un degré

    de liberté supplémentaire pour la conception de

    dispositifs efficaces sur semiconducteur. D'un autre

     point de vue, les semiconducteurs magnétiques peuvent

    également être utilisés pour le stockage de l'information

    [16]  ou pour les télécommunications optiques [17], de par leurs propriétés optiques et magnétiques. Enfin,

    l'électronique de spin dans les semiconducteurs se

    développe également dans le domaine du calcul

    quantique [18].

    Remerciements

    Je remercie toutes les personnes avec lesquelles j'ai

    collaboré à l'IEF sur ce sujet, et notamment

    Pierre Beauvillain, Patrick Bruno, Claude Chappert,

    Vincent Delmouly, Thibaut Devolder, Philippe Dollfus,

    Patrice Hesto, David Massoubre et Gérard Tremblay.

    Références[1] G.A. Prinz, J. Magn. Magn. Mater. 200, 57 (1999).

    [2] A. Bournel, Ann. Phys. Fr. 25, 1 (2000).[3] A. Tackeuchi et al., Jpn. J. Appl. Phys. 38, 4480 (1999).

    [4] S. Hallstein et al., Phys. Rev. B 56, 7076 (1997).[5] A. Bournel et al., Appl. Phys. Lett. 77, 2346 (2000).[6] A. Malinowski et al., Phys. Rev. B 62, 13034 (2000).

    [7] S. Datta, B. Das, Appl. Phys. Lett. 56, 665 (1990).

    [8] A. Bournel et al., Physica E 10, 86 (2001).[9] V. Delmouly et al., Thin Solid Films 384, 282 (2001).[10] G. Schmidt et al., Phys. Rev. B 62, 4790 (2000).[11] E.I. Rashba, Phys. Rev. B 62, 16267 (2000).

    [12] R. Fiederling et al., Nature 402, 787 (1999).[13] Y. Ohno et al., Nature 402, 790 (1999).[14] H. Akinaga et al., Jpn. J. Appl. Phys. 39, 1118 (2000).[15] K. Ando et al., Appl. Phys. Lett. 78, 2700 (2001).

    [16] J. De Boeck, G. Borghs, IEDM 1999 Technical Digest,

    215 (1999).

    [17] H. Akinaga et al., Appl. Phys. Lett. 76, 97 (2000).[18] M.N. Leuenberger, D. Loss, Physica E 10, 452 (2001).