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ALITA SMART DATA
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半导体测试大数据平台
山东阅芯电子科技有限公司
〡Phone: +86-631-7692002〡Web: www.prime-rel.com〡Email: sale@ prime-rel.com〡
ALITA SMART DATA
半导体测试大数据平台
--深度挖掘数据价值，轻松管控海量数据
产品简介
ALITA SMART DATA 系列产品是基于云计算技术构建的半导体测试测量大数据平台，主要用于 FAB、封装厂、Design House 的
测试数据管理、分析与价值挖掘，并支持提供定制化数据服务。兼容 WAT(Wafer Acceptance Test)测试、CP（Chip Probing）测试，
FT（Final Test）测试及可靠性测试。
ALITA SMART DATA 系列产品可以部署在公有云或者私有云中，用户可以通过移动端、PAD 或 PC 网页浏览器实时管理测试数
据。不同设备产生数据可以通过 SMART AGENT 自动上传或人工上传到 SMART DATA 的数据中心，采用数据加密和安全传输通道，
避免了数据在传输过程中造成的病毒感染或丢失。SMART DATA 采用云存储技术，解决了数据分散在各个测试设备且不能统一管理
的难题。SMART DATA 采用大数据技术，对原始数据进行统计、分析及价值挖掘。如：产能分析（良率、吞吐量，故障时间等）、一
致性分析、趋势分析、参数分析（分布分析、相关性分析）、制程能力分析（CP/CPK）、GR&R 分析、批次对比等，同时支持自定义
模型对数据进行分析。
用户可以登录 SMART DATA 系统实时查看设备每天的有效工作时间、测试数量、合格数等产能信息。SMART DATA 还提供了方
便的数据检索功能，用户可以通过产品编号、制造商、封装类型等查找每个批次或每一颗器件的测试结果。SMART DATA 提供了丰
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富数据展现形式，如晶圆图、矩阵图、曲线图、饼图、直方图、箱线图、散点图、帕累托图等。
ALITA SMART DATA 采用模块化系统结构，非常方便升级和维护，并与 ALITA SMART LAB 无缝连接，完成整个实验室设备和
数据的智能化管理。
功能模块
一、 产能统计
支持统计实验室所有测试设备的总有效工作时间、总测试数量、合格数随时间变化；
支持统计每一台设备的有效工作时间、测试数量、良率随时间变化；
支持自动生成每一台设备及实验室投入产出年报，显示当前设备的有效工作时间、故障时间、空闲时间、测试数量、资源消耗费用、闲置成本和总产出等。
二、 数据导入导出
支持数据通过 SMART AGENT 实时自动上传和离线人工上传；
兼容非标格式数据原始数据。标准数据格式包含设备 ID、样品种类与 ID、测试条件、测试人员、测试起止时间、测试参数等；
支持分析结构、原始数据以 csv，jpg 等格式导出。
三、 数据存储与检索
上传数据存储于数据服务器中，定期备份；
可以根据用户需求划分不同产品大类，如 IGBT、MOSFET、DIODE、HEMT、晶闸管等。
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可以通过制造商产品编号、库存编号、制造商、封装类型、额定电压、额定电流、测试时间等筛选出到所需产品批次。
四、 数据展示、计算、分析和统计
通过检索到的产品批次，可以查看该批次的所有测试数据，包括功能、参数测试（静态、动态）、可靠性测试（HTRB、HTGB、H3TRB、功率循环）等原
始数据和统计结果（各参数的均值、方差、良率等）。
支持对查找到的原始数据进行数值拟合、再次运算、图表展示等。
支持通过再次检索到某一颗样品的所有测试结果，确保所有测试数据可追溯。
趋势分析，对产品良率、产量、成本等进行趋势分析
一致性分析，对产品批次的参数平均值、中值、极值和方差进行分析
GR&R 分析，对测量系统的重复性、复现性进行分析
参数分析，对所选参数进行分析，如均值、均方差、极值，分布，相关性等
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制程能力分析，分析产品批次的 CPP/CPK 曲线
自定义模型，提供脚本编辑功能，可以通过输入脚本来自定义模型进行分析
五、 批次对比
支持对比多个不同批次产品的测试数据，并通过直方图、成品率图、箱线图、CPK、良率累积曲线图等形式对比批次间差异；
支持不同厂商的同类型产品之间的数据分析指标对比；
六、 账户权限管理
支持给不同的账户提供不同的使用权限
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