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TITRE INSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES 1 Microcapteurs nano-fonctionnalisés pour la détection biologique DONERO Laetitia Directeurs de thèse: - Nantes : Pierre-Yves Tessier, Abdelaziz El mel - Rennes: France Le Bihan, Laurent Le Brizoual

Microcapteurs nano-fonctionnalisés pour la détection ... · INSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES 1 ... Nanofils de Silicium Carbone Nanoporeux Nanotube

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TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

1

Microcapteurs nano-fonctionnalisés

pour la détection biologiqueDONERO Laetitia

Directeurs de thèse: - Nantes : Pierre-Yves Tessier, Abdelaziz El mel

- Rennes: France Le Bihan, Laurent Le Brizoual

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Présentation du projet

Institut des Matériaux Jean RouxelInstitut d’Electronique et Télécommunication de Rennes

IETR IMN

Equipe Plasma et Couches MincesDépartement Microélectronique et Microcapteurs

Dépôts et caractérisations de Nano-ObjetsConception et caractérisations de transistors

Réalisation d’un capteur pour la détection biologique

Carbone NanoporeuxNanofils de Silicium Nanotube de Carbone [1]

[1] Thèse « Aurélien Gohier » Université de Nantes (2007) IMN

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Capteurs étudiés au sein de l’équipe

Microélectronique, Micro capteur

SGFET à micro canaux (Ismaïl BOUHADDA 2014 )

SGFET grille suspendue(Abdelghani Kherrat 2012)

TFT à base de nano-fils (Gertrude Godem Wenga 2013)

Présentation du projet

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Fonctionnement du TFT en tant que capteur

Principe de détection

• En milieu liquide (pH)

• Caractéristique électrique

• Mesure de sensibilité

Présentation du projet

Thèse (Abdelghani Kherrat 2012)Réalisation de microchambres d'analyse chimique :

microcapteurs de pH et microfluidique associés

S=250mV/pH

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Polysilicium très dopé N

Polysilicium non dopé

Couche isolante (Nitrure)

Couche isolante (Oxyde de silicium)

Présentation du projet

Originalité du projet

• Pas de contact métallique (Silicium poly cristallin)

• Grille inferieure « Bottom gate »

• Géométrie plus simple

• Intégration de nanomatériaux sur la zone active

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Les nanomatériaux

VLS/ Catalyseur d’or

Laetitia DONERO

PECVD catalyseur de nickel [1]

Damien Thiry (post-doc)

Co-Pulvérisation cathodique /gravure chimique

Nicolas Bouts (Docteur ) et Abdelaziz El Mel (CR)

Présentation du projet

Grand rapport surface sur volume

Température de synthèse compatible avec la technologie

Application de détection

Fonctionnalisation possible

[1] Thèse « Aurélien Gohier » Université de Nantes (2007) IMN

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Sommaire

1.Dispositif

2.Caractérisations électriques

3. Intégration de nanomatériaux

4.Conclusions et Perspectives

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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1.Dispositif

2.Caractérisations électriques

3. Intégration de nanomatériaux

4.Conclusions et Perspectives

Sommaire

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Si waferSiO2

Couche isolante (Oxyde de silicium)

SubstratDépôt de SiO2

Technique: APCVD

Gaz: Silane/Oxygène

Température: 420°C

Vitesse de dépôt: 29 nm/min

Epaisseur: 800 nm

Densification

Technique: Recuit

Température: 600°C

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Si waferSiO2

Polysilicium très dopé N

Couche isolante (Oxyde de silicium)

Contacts

SF6 SF6SF6

Gravure sècheTechnique: Plasma

Puissance: 30w

Débit: 30sccm

Pression: 4 Pa

Vitesse de gravure: environ 150nm/min

Dépôt poly Si dopéTechnique: LPCVD

Gaz: Silane, phosphore

Pression: 90 Pa

Vitesse de dépôt: 5 nm/min

Epaisseur: 300 nm

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Si waferSiO2

GS DPolysilicium très dopé N

Couche isolante (Oxyde de silicium)

Gravure sècheTechnique: Plasma

Puissance: 30w

Débit: 30sccm

Pression: 4 Pa

Vitesse de gravure: environ 150nm/min

Dépôt poly Si dopéTechnique: LPCVD

Gaz: Silane, phosphore

Pression: 90 Pa

Vitesse de dépôt: 5 nm/min

Epaisseur: 300 nm

Contacts

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Si waferSiO2

GSi3N4

S DCouche isolante (Nitrure)

Polysilicium très dopé N

Couche isolante (Oxyde de silicium)

Isolant de grilleDépôt de Si3N4

Technique: LPCVD

Gaz: Silane/Amoniaque

Pression: 60 Pa

Température: 725°C

Vitesse de dépôt: 4 nm/min

Epaisseur: Variable

Dépôt de SiO2Technique: APCVD

Gaz: Silane/Oxygène

Température: 420°C

Vitesse de dépôt: 29 nm/min

Epaisseur: Variable

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Si waferSiO2

GSi3N4

S D

Gravure humide de SiO2

Technique: Solution de BHF

Vitesse de gravure: (test hydrophobique)

Gravure sèche

Technique: Plasma

Puissance: 30W

Débit: 10 sccm

Pression: 1 Pa

Vitesse de gravure: environ 15nm/min

Ouverture des contacts

Couche isolante (Nitrure)

Polysilicium très dopé N

Couche isolante (Oxyde de silicium)

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Si waferSiO2

GSi3N4

S D

Contacts source/drain

Dépôt poly Si dopé

Technique: LPCVD

Gaz: Silane, phosphore

Pression: 90 Pa

Vitesse de dépôt: 5 nm/min

Epaisseur: 300 nm

Couche isolante (Nitrure)

Polysilicium très dopé N

Couche isolante (Oxyde de silicium)

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Si waferSiO2

GSi3N4

S D

Gravure sèche

Technique: Plasma

Puissance: 30 W

Débit: 30 sccm

Pression: 4 Pa

Vitesse de gravure: 15nm/min

Ouverture

Couche isolante (Nitrure)

Polysilicium très dopé N

Couche isolante (Oxyde de silicium)

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Si waferSiO2

GSi3N4

S D

Gravure sèche

Technique: Plasma

Puissance: 30 W

Débit: 30 sccm

Pression: 4 Pa

Vitesse de gravure: 15nm/min

Ouverture

Couche isolante (Nitrure)

Polysilicium très dopé N

Couche isolante (Oxyde de silicium)

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Si waferSiO2

GSi3N4

S D

Zone active

Polysilicium très dopé N

Couche isolante (Oxyde de silicium)

Polysilicium non dopé

Zone activeDépôt poly Si

Technique: LPCVD

Gaz: Silane

Pression: 90 Pa

Vitesse de dépôt: 5 nm/min

Epaisseur: Variable

Couche isolante (Nitrure)

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Si waferSiO2

GSi3N4

S D

Zone active

Polysilicium très dopé N

Polysilicium non dopé

Zone activeDépôt poly Si

Technique: LPCVD

Gaz: Silane

Pression: 90 Pa

Vitesse de dépôt: 5 nm/min

Epaisseur: Variable

Couche isolante (Nitrure)

Couche isolante (Oxyde de silicium)

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Si waferSiO2

GSi3N4

S D

Zone active

Encapsulation

Polysilicium très dopé N

Polysilicium non dopé

Couche isolante (Nitrure)

Couche isolante (Oxyde de silicium)

Dépôt de Si3N4Technique: LPCVD

Gaz: Silane/Amoniaque

Pression: 60 Pa

Température: 725°C

Vitesse de dépôt: 4 nm/min

Dépôt de SiO2Technique: APCVD

Gaz: Silane/Oxygène

Température: 420°C

Vitesse de dépôt: 29 nm/min

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Si waferSiO2

GSi3N4

S D

Zone active

Polysilicium très dopé N

Couche isolante (Oxyde de silicium)

Polysilicium non dopé

Intégration de nanomatériaux

Intégration de

nanomatériaux

Couche isolante (Nitrure)

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Sommaire

1.Dispositif

2.Caractérisations électriques

3. Intégration de nanomatériaux

4.Conclusions et Perspectives

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Vth

gm

Vth: Tension de seuil

gm: Transconductance

Pente sous le seuil

Caractéristique de transfert

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Encapsulation et Forming gas

Technique: Recuit en atmosphère gazeuse

Température: 400°C

Mélange gazeux: N2/H2 à 10%

Durée: 30 min

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Optimisation du transistor

SiO2/Si3N4

Mobilité : 6±1.5 cm²/V.s

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Test en milieu liquide

Etudes en cours Test en pH

Test en temps réel

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Sommaire

1.Dispositif

2.Caractérisations électriques

3. Intégration de nanomatériaux

4.Conclusions et Perspectives

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Les nanomatériaux

VLS/ Catalyseur d’or

Laetitia DONERO

PECVD catalyseur de nickel [1]

Damien Thiry (post-doc)

Co-Pulvérisation cathodique /gravure chimique

Nicolas Bouts (Docteur ) et Abdelaziz El Mel (CR)

Présentation du projet

[1] Thèse « Aurélien Gohier » Université de Nantes (2007) IMN

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Intégration des nanomatériaux

Résine Couche métallique

TITREINSTITUT D’ÉLECTRONIQUE ET DE TÉLÉCOMMUNICATIONS DE RENNES

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Croissance de Nanofils

Epaisseur de la couche d’or: 1,4 nm

Recuit : 450°C

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Intégration sur la surface

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Faisabilité

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Sommaire

1.Dispositif

2.Caractérisations électriques

3.Test en milieu liquide

4. Intégration de nanomatériaux

5.Conclusions et Perspectives

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Fixer l’épaisseur de l’isolant de grille

Tests en milieu liquide

Faisabilité d’intégration de nanomatériaux

Tests avec des solutions pH

Etude sur la croissance des nanofils de silicium

Intégration des nanomatériaux sur la zone active

Conclusions

Perspectives

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Merci de votre attention

Remerciement : Régions Pays de la Loire et Région Bretagne

pour le financement de la thèse