Abdelyllah Elboudali ; Fouad Bana Professeur : A. Khouas Département de génie électrique

ELE6306 : Test de systèmes électroniques

Standard IEEE 1149.6 pour le test

Boundary-Scan

Des réseaux numériques avancésAbdelyllah Elboudali ; Fouad Bana

Professeur : A. Khouas

Département de génie électrique

École Polytechnique de Montréal

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Projet, ELE6306 - 21 avr. 2023 École Polytechnique de Montréal

PLAN

Introduction

Technologie

Instructions

Langage BSDL

CONCLUSION

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INTRODUCTION

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Objectifs: Couplage des réseaux numériques en

mode AC

IEEE 1149.1 est conçu pour les couplage DC

Problème: le test DC ne fonctionne pas en

mode AC

Solution: développer le standard IEEE1149.1

pour remédier à ce problème

Le standard IEEE1149.6 est donc une extension

du standard IEEE1149.1

5


TECHNOLOGIE Les différents types de couplage

Les défauts

Implémentation des signaux de test

6


Ce chapitre traite les discussions sur le

couplage en AC, le signal différentiel, et

l’impact des défauts dans les circuits par

faute de non compatibilité au test avancé des

entrées/sorties.

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LES COUPLAGES

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Les couplage en AC

La tension d’offset varie entre le driver et le

récepteur

Plusieurs fournisseurs de réseaux: différents seuils

Le couplage AC différentiel résout ce problème

Le couplage AC peut créer des distorsions aux niveau

de signal suivant la fréquence ( page 5 et 6)

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Le couplage en AC ( Mode asymétrie)

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Les couplage en AC (suite)

11


Les couplage en AC (suite)

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Les réseaux différentiels

Les réseaux numériques à haute fréquence

sont souvent différentiels

-peu de problème et moins de bruits

d’immunité par rapport aux réseaux

asymétriques

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Le couplage AC ( Mode différentiel)

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Le couplage AC (suite)

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LES DEFAUTS

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Les défauts

Les défauts sont des anomalies qui se produisent sur les cartes électroniques pendant l’étape de fabrication et qui doivent être détectés et corrigés. Parmi les modèles de défaut qu’on peut trouver:

-Les circuits ouvert

-Les courts-circuits

-Les défauts paramétriques

-A absence ou défectuosité des composants, etc.

Ce qui identifie le rôle traditionnel d' IEEE 1149,1 comme

standard de test des défauts de fabrication.

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Circuit ouvert sur un coté de la capacité

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Les défauts(suite)

La présence d’un circuit ouvert sur une des

bornes de driver ne peut pas être détecté par

le récepteur, en effet le comparateur continue

à comparer une de ses bornes à Vref. Ce qui

augmente le taux d’erreur.

Pour cela il faut contrôler les deux bornes du

driver.

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Défauts universelles

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Implémentation des signaux de test

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Un multiplexeur commandé par le AC-EXTEST

choisit entre la donnée à tester et le signal à

transmettre

AC-EXTEST

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Driver en mode différentiel

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Récepteur en mode Single-Ended

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Récepteur en mode Single-Ended(suite)

Quand le signal AC EXTEST est chargé, un

récepteur spéciale digitalise le signal reçu et

un autre bloc détecteur (Det) détermine si le

signal reçu est un ‘1’ ou un ‘0’.

Quand AC-EXTEST est chargé le signal à

transmettre passe par les registres du

Boundary scan.

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Testeur d’un récepteur qui supporte DC et AC-EXTEST

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Testeur d’un récepteur qui supporte DC et AC-EXTEST (suite)

Un multiplexeur permet de combiner entre le

DC et le AC-EXTEST

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Exemple contrôle d’une cellule avec AC-EXTEST

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LES INSTRUCTIONS

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Toutes les instructions fournies par IEEE STD 1149.1 s’exécutent pour les interconnexions en DC.

Les interconnexions en AC s’exécutent tel que spécifié avec l’exception d’une inversion entre la cellule de registre boundary-Scan et la sortie négative du driver.

L' instruction EXTEST_DC permet de détecter le niveau de comportement du signal sur les chemins contenant les interconnexions couplées en AC.

L’ instruction EXTEST_DC permet détecter les condensateurs court-circuités sur les chemins couplés en AC, et certains autres défauts possibles.

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LE LANGAGE BSDL

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Le mécanisme d’extension est choisit pour

décrire les circuits basés sur la définition du

langage de design à haut niveau (VHDL) avec

le nom STD_1149_6_2003 et qui contient les

définitions des attributs utilisés pour fournir

les données appropriées

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Nouvelles commandes utilises dans BSDL

AC_0 to AC_99

AC_Select

AC_SelU

AC_SelX

AIO_Component_Conformance

AIO_EXTEST_Pulse_Execution

AIO_EXTEST_Train_Execution

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Nouvelles commandes utilises dans BSDL(suite)

AIO_Pin_Behavior

HP_time

LP_time

Maximum_time

On_chip

STD_1149_6_2003

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CONCLUSION

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Le standard 1149.6 est une extension de STD

1149.1 et STD 1149.4

Il est simple, robuste et teste les différents

types de couplage asymétrie et différentiel

Au niveau logiciel, il a développé le langage

BSDL pour satisfaire les nouvelles exigences

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Questions

Documents

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