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  • 8/3/2019 6capteurs

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    mercredi 7 fvrier 2001

    GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Capteurs

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    Philippe Mabilleau ing.

    Types de capteurs

    Capteurs de position Capteurs de force Capteurs de temprature

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    Capteurs de position

    Ces capteurs traduisent la position d'un

    objet sur un axe de rotation sur un axe linaire

    Position angulaire

    Position linaire

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    Capteurs de position absolue

    Position donne par rapport unerfrence fixe

    Angle avec une direction fixe Distance avec un point fixe sur un axe Position absolue dans lespace

    2D dplacement dans un plan 3D reprage dans lespace

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    Capteurs de position relative

    Mesure du dplacement par rapport auxpositions antrieures

    Rfrence absolue non disponible Grandeur mesure

    vitesse

    acclration dplacement par comptage

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    Technologie des capteurs

    Capteurs analogiques

    position absolue Capteurs numriques

    position absolue et relative

    dplacements

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    Capteurs analogiques

    La position est mesure l'aide d'une

    grandeur analogique potentiomtriques (rsistance) capacitifs et inductifs de niveau (liquide)

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    Capteurs numriques

    Position ou dplacement

    Directement encod sous formenumrique

    Capteurs mcaniques

    Capteurs optiques

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    Capteurs potentiomtriques

    Bonne prcision si dmultiplis Valeur analogique gnralement

    convertie en tension Cot lev Rsistance au dplacement non

    ngligeable

    Bruit de contact potentiel entre lecurseur et la piste

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    Capteurs potentiomtriques Linaire ou angulaire

    Simple ou multitours Position absolue

    Valeur angulaire limite en amplitude Utilisation de potentiomtres avec deux

    pistes sans fin de course

    Conversion linaire de la rsistance entension pour tre prsente unconvertisseur analogique numrique

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    11 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

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    R1

    R2

    angle

    angle

    R1 R2

    Potentiomtres sans fin

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    12 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

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    0- 10 V

    - 1 0 V

    0- 1 K

    -

    +

    1 K

    R

    -15V

    V = R

    1k10v( )

    Conversion de la rsistance

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    C= K0

    A

    d

    Capteurs capacitifs Exploitation de la variation de capacit

    d'un condensateur Pour un condensateur plan

    avec 0 = 8.85 pF/m Variation de la distance d Variation de l'aire A Variation de la constante dilectrique K

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    14 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

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    Sort ie

    Source ac

    L1

    L2L3

    Capteurs inductifs Variation de l'inductance ou de

    l'inductance mutuelle LVDT

    linear variable differential transformer L'amplitude de la tension

    diffrentielle de sortievarie linairement avec la

    position du noyau La phase de cette mme tension

    change au passage au centre

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    15 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

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    Source ac

    LVDT

    Sort ie dc

    R

    R

    C

    D

    D

    Utilisation d'un LVDT

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    16 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

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    LVDT

    Dtecteur phase

    Oscillateur

    Filtre et red.

    Utilisation d'un LVDT

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    17 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

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    Caractristiques des LVDT

    Course linaire de 1 mm 25 cm

    Linarit typique de 0.25% Transfert statique en mV/mm

    Caractristiques dynamiques fonctions

    de l'lectronique d'interface

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    18 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

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    Mesures de niveaux Mcaniques

    utilisation de flotteurs avec les liquides

    lectriques

    utilisation des caractristiques lectriquesdu fluide conduction capacit constante dilectrique variable

    ultra-sons non invasifs

    mesure de pression

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    19 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

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    Capteurs numriques

    encodage directe

    code Gray Par comptage dplacements relatifs codage incrmental

    dtection du sens de dplacement

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    20 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

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    Le code Gray est un code distanceminimale qui permet d'viter les tats

    intermdiaires errons Un seul bit change dune position l'autre

    Il peut tre utilis avec des capteurs

    optiques ou balais mcaniques, pourdes positions angulaires ou linaires

    Code Gray

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    Code Gray 4 bits

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    22 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

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    Capteurs mcaniques balais

    Lecture numrique simple

    Usure leve, sensible

    l'environnement Utilisation d'interrupteurs magntiques

    et d'un compteur compte-tours

    Dispositifs de pointage

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    23 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Capteurs optiques

    Rsistance au mouvement faible Lecture numrique simple

    Par encodage direct encodeurs angulaires optiques angles mesurs en absolu

    Par comptage dispositifs de pointage (souris)

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    24 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

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    Dtection du mouvement relatif et de sadirection

    Linaire ou angulaire

    Rgle imprime Roue dente

    Surface strie

    n+1/2demi-priodes

    Capteur 1 Capteur 2

    Codeur incrmental

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    25 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

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    X

    Y

    P

    X-

    S

    Sens du dplacement

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    26 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    D

    C

    Q D

    C

    Q

    D

    C

    Q D

    C

    Q

    D

    C

    Q

    Y

    X

    CLK

    S

    P

    X-

    Dtecteur

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    27 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    X

    Y

    S

    P

    D

    C

    Q

    X

    Y = P

    S

    Dtecteur simplifi

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    28 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Mesures de forces

    La mesure des forces ou contraintes esttrs utilise car elle permet la mesure

    indirecte des pressions, dbits,acclration et poids

    La mesure des contraintes utilise larelation qui existe entre contrainte etdformation

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    29 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    tirement Compression

    La contrainte estexprime en N/m2

    La dformation est

    exprime en m/mou en m/m AF

    Contrainte =

    FF

    F F

    A

    A

    l

    l

    l

    l

    Dformation =ll

    Diffrents types de contraintes

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    30 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    F

    F

    A

    l

    x

    Dformation =xl

    Torsion =

    F

    A

    Torsion

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    31 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Contrainte

    Dformation

    Saturation

    Rupture

    ll

    AFE

    ==nDformatio

    Contrainte

    Zone de dformationlastique

    Contrainte et dformation

    E module d'lasticit d'Youngen N/m2

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    32 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Une jauge de contrainte est un dispositifconducteur dont la rsistance va varier

    suite sa dformation sous unecontrainte Sous l'effet de la contrainte la longueur

    de la jauge va augmenter et sa section

    va diminuer; ce qui va modifier sarsistanceR0 =

    l0

    A0

    Jauge de contrainte

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    33 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Variation de la rsistance

    Exemple: R0 = 120

    contrainte de 1000 m/m R = 0.24

    l 0A 0 = l 0 + l( ) A0 A( )

    R = l 0 + l

    A0 A

    R =l0

    A01+ 2

    ll0

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    34 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Direction sensible

    Directionnon-sensible

    Substrat isolant

    ConducteurPad d'interconnexion

    Construction

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    35 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    La relation entre la contrainte et lavariation de rsistance d'une jaugepermet de dfinir son coefficient

    Pour les jauges mtalliques usuelles GF

    est voisin de 2; il peut aller jusqu' 10pour certains alliages ou le carbone

    GF=R Rl l

    Jauges mtalliques

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    36 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Rsistance dune jauge

    La valeur nominale de la rsistance

    d'une jauge (en l'absence de contrainte)peut tre de 60, 120, 240, 350, 500 ou1000 ; la valeur la plus commune est120

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    37 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Un pont est utilis pour mesurer lavariation de rsistance

    Une jauge inactive est utilise dans laseconde branche du pont pourcompenser les effets des variations detemprature

    F F

    RA

    RD

    +Vs D

    Det

    Utilisation d'une jauge

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    38 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    RA = R 1 +RR

    V= VS RD

    RD + R1 R

    A

    RA + R2

    V= VS

    4

    RR

    1 + RR

    VS

    4

    R

    R=

    VS

    4GF

    l

    l

    Variations au dtecteur

  • 8/3/2019 6capteurs

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    39 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Jauges semi-conducteur Construites partir de semi-

    conducteurs (gnralement le silicium) Coefficients beaucoup plus levs que

    les jauges mtalliques du l'effet de la contrainte sur la mobilit desporteurs dans les semi-conducteurs

    Coefficients de lordre de -50 -200

    Variation de la rsistance non linaire gnralement le coefficient dcrot avec la

    contrainte (donc augmente en valeur absolue)

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    40 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Acclromtres Mesure de la position dune masse

    suspendue un ressort rponse dynamique

    rsonance Capteur de position

    potentiomtriques LVDT

    Pizo-lectrique

    Mesure de vibrations

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    41 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Manomtres

    Diffrents types diaphragme et LVDT (type Bourdon)

    semi-conducteur (jauges de contrainte) jauge Pirani (dissipation thermique dunfilament, faible pression)

    Jauge ionisation (faibles pressions)

    Dbitmtres manomtre diffrentiel

  • 8/3/2019 6capteurs

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    42 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Mesure de tempratures Base sur l'effet de la temprature sur

    des grandeurs physiques ou lectriques rsistance

    effet thermo-lectrique proprit des semi-conducteurs

    rsistivit tension Zener

    expansion dun liquide dun solide

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    43 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Rsistivit des mtaux croissante avecla temprature

    Rsistance mtallique croissante avecla temprature

    Variation non linaire approximation par une variation linaire sur

    une plage limite par une variation quadratique sur une plage

    plus large R(T) = R(T0)(1+

    1T+

    2(T)2 )

    R(T) = R(T0 )(1 + 0T)

    Rsistance mtallique

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    44 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Exemples de variations

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    45 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Lignes de com pensa t ion+

    Vs

    -

    +

    Dtecteur rsistance (RTD)

    Utilisation dun pontavec lignes decompensation

  • 8/3/2019 6capteurs

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    46 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Thermistor

    Rsistance semi-conducteur Diminue avec la temprature dune

    faon non linaire

    Trs sensibles la temprature; typiquement 10% de la rsistance

    nominale par C

    Plages de tempratures dutilisation -50 C -100 C jusqu' 300 C

  • 8/3/2019 6capteurs

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    47 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Rsistance dun thermistor

    48

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    48 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Dissipation de puissance par le couranttraversant la rsistance de mesure

    lvation de temprature Rduction lincidence du phnomnesur la mesure limitation du courant dans la rsistance

    prise en compte de l'erreur de lecture dueau rchauffement

    Facteur de dissipation

    49

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    49 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Prise en compte

    Facteur de dissipation Spcifications des RTD et des

    thermistors facteur de dissipation, PD (en W/C) , quiest la puissance requise pour augmenter latemprature du composant de 1C

    P = puissance dissipe dans la rsistance pourla mesure

    T = lvation de la temprature rsultanteT= P

    PD

    50

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    50 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Effet thermo-lectrique Force lectromotrice rsultant de la

    diffrence de temprature entre 2jonctions mtallique dans un circuit

    Trs faible (quelques mV) Non linaire

    mais une approximation linaire peut treutilise sur de vastes plages de temprature

    Fonction des tempratures desjonctions de rfrence

    51

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    51 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Thermocouple

    T1

    T2

    mtal A

    mtal B

    Force lectromotrice TM

    TR

    TR

    mtal A

    mtal B mtal C

    mtal C

    52 GEI L b i d i f i

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    52 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Utilisation dun thermocouple

    Plage des tempratures qui peuventtre mesures trs vaste

    plage de 500 1500 C depuis -200 C jusqu' 1482 C

    Dpend de la nature des jonctionsmtalliques jonctions mtalliques standards

    53 GEI 437 L b i d i f i

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    53 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Types standards de jonctions

    Type Matriaux Plage de tempratures

    J Fer-constantan -190 760 oC

    T Cuivre-constantan -200 371 oC

    K Chromel-alumel -190 1260 oC

    E Chromel-constantan -100 1260 oC

    S 90% platine +10% rhodium-platine

    0 1482 oC

    R 87% platine +13% rhodium-platine

    0 1482 oC

    54 GEI 437 L b t i d i t f t i

  • 8/3/2019 6capteurs

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    54 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Exemples de variations

    55 GEI 437 L b t i d i t f t i

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    55 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Autres capteurs Bilames mtalliques

    dtection d'un seuil de temprature

    Thermomtres gaz ou pression devapeur saturante

    mesure de pression

    Capteurs intgrs semi-conducteur variation d'un tension Zener en fonction de la

    temprature plage de mesure de -50 C 150 C utiliss comme point de rfrence pour

    thermocouple

    56 GEI 437 L b t i d i t f t i

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    56 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Exemple dapplication

    Plage de temprature mesurer de 500 600 F avec une rsolution de 1 F

    La plage de tempratures est de260 315.6 C

    Un thermocouple de type J (fer-constantan) estutilis avec une jonction de rfrence 25 C0.5 C

    Les tables donnent pour un thermocouple

    de type J 260 C, VT25 = 12.84 mV 315.6 C, VT25 = 15.90 mV

    57 GEI 437 L b t i d i t f t i

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    57 GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Conditionnement du signal La tension VADC prsente au convertisseur

    varie de 0 5 V La tension de sortie du thermocouple est

    considre linaire sur la plage utilise

    Le circuit de conditionnement doit raliser laconversion suivante:VADC = m VT25 + V0

    Les paramtres m et V0 peuvent tredtermins l'aide des quations suivantes:

    0 = m (0.01284) + V05 = m (0.01590) + V0 Ce qui fait: m = 1634 et V0 = -21 V

    58 GEI 437 Laboratoire d interfaces et microprocesse rs

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    GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Philippe Mabilleau ing.

    Calcul du circuit

    Un gain de 1634 risque d'tre sourced'instabilits si ralis avec un seul tage

    Un amplificateur diffrentiel avec un gain de-100 va tre utilis comme premier tage suivid'un sommateur

    V1 = -100 VT25

    VADC = 16.34 V1 - 21

    VADC = 16.34 (V1 - 1.29)

    59 GEI 437 Laboratoire d interfaces et microprocesseurs

  • 8/3/2019 6capteurs

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    GEI 437 Laboratoire dinterfaces et microprocesseurs

    Vadc

    -

    +

    -

    +

    10K

    100K1K

    1K

    163.4K

    2.88K1K

    +5V

    TREF

    T

    Fer

    Constantan

    Circuit de conditionnement